2025年Micro LED产业大会近日在深圳隆重召开，壹倍科技首席技术官高锦龙博士受邀出席并发表主题演讲，重点分享了公司在Micro LED全链条检测技术方面的突破性进展。
高锦龙博士在演讲中指出，当前Micro LED产业正处于从实验室走向规模化量产的关键阶段，而检测技术作为贯穿材料、芯片、巨量转移、封装测试全流程的核心环节，直接决定了产品的良率和成本。壹倍科技自主研发的全链条检测解决方案，通过AI视觉检测、光谱分析和自动化测试系统的深度融合，实现了从外延片质量评估到最终模组性能测试的全流程覆盖。
在技术开发方面，高博士详细介绍了三个创新突破：首先是在微米级缺陷检测领域，通过深度学习算法将检测精度提升至亚微米级别；其次开发了非接触式电致发光检测技术，大幅降低了传统探针测试对微型芯片的损伤风险；最后建立了基于大数据的良率预测模型，能够提前预判生产过程中的潜在问题。
这些技术突破正在帮助产业链合作伙伴有效解决Micro LED量产过程中的关键技术瓶颈。据高博士透露，采用壹倍科技检测方案的客户，其Micro LED产品良率平均提升了15个百分点，生产成本降低了30%以上。
与会专家认为，全链条检测技术的成熟将加速Micro LED在AR/VR、车载显示、超大尺寸商用显示等高端应用场景的普及。高锦龙博士表示，壹倍科技将继续加大研发投入，与产业伙伴携手推动Micro LED技术实现从‘可制造’到‘可量产’的历史性跨越。
